NanoScan 2s Si/9/5扫描狭缝轮廓仪硅探测器
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简介:描述:
这种 NanoScan 扫描狭缝轮廓分析系统使用其硅探测器准确捕获和分析 190nm - 1100nm 的波长。它具有适用于大多数光束的狭缝尺寸、近乎实时的数据捕获率、可选的功率测量功能,并在 CW 或 kHz 脉冲模式下运行,这使其成为紫外、可见光和近红外激光综合分析的理想选择。
20µm 至 ~6mm 的光束尺寸
~10nW 至 ~10W 的功率水平
USB 2.0 接口
包括 NanoScan Standard 或 Professional 软件